日本檢驗儀器制造商協(xié)會的 JIMA 分辨率測試圖 JIMA RT RC-04 是采用新的半導體光刻技術制作的顯微圖。
日本JIMA RT RC-04分辨率測試卡產品簡介：
日本檢驗儀器制造商協(xié)會的 JIMA 分辨率測試圖 JIMA RT RC-04 是采用新的半導體光刻技術制作的顯微圖。
它用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，并確保您的微焦點或納米分辨率 X 射線檢測系統(tǒng)的高質量結果。
JIMA RT RC-04 支持 0.1 微米到 10 微米之間的分辨率。這對應于 0.2 微米和 20 微米之間的焦點尺寸。
日本JIMA RT RC-04分辨率測試卡應用：
修復 X 射線系統(tǒng)操縱器上的分辨率測試。選擇探測器、樣品和試管的距離，以實現(xiàn)高幾何放大倍率。選擇所需的 X 射線參數(shù)。
將分辨率測試放置在管子的前面，使線條圖案清晰可見。使用操縱器移動測試圖，以便可以看到距離更短的下一行。只要清楚地解決了單獨的行，就繼續(xù)。焦點大小近似計算為小分辨率乘以 2。
注意：盡量減少輻射的持續(xù)時間。在手術過程中關閉 X 射線。目標前面的熱量可能會損壞測試圖。
日本JIMA RT RC-04分辨率測試卡技術參數(shù)：
線和空間大小：0.1, 0.15, 0.2, 0.25, 0.3, 0.35, 0.4, 0.5, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1.0, 1.5, 2.0, 3.0 ,4.0 ,5.0 ,6.0, 7.0, 8.0, 9.0,10.0 μm(行與空等寬)
每條狹縫由8條線組成，T型布局
吸收材料：鎢，厚度>= 650nm
保護膜：PET-film 25 μm(包括粘合層)
硅基：15 μm +/- 1 μm(厚度)
外殼尺寸：40 x 30 x 5 毫米(寬 x 高 x 深)
芯片尺寸：5 x 5 x 0.06 毫米(寬 x 高 x 深)
圖案精度：公差：+/- 10%
工作溫度范圍：10°C 至 70°C
提供帶測試報告的空氣懸掛箱.
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