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美國Tektronix(泰克) BSA85C誤碼率測試儀是為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了全新的方式的誤碼率測試儀。

美國Tektronix(泰克) BSA85C誤碼率測試儀產(chǎn)品簡介：
?BERTScope?誤碼率測試儀系列為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了全新的方式
?將眼圖分析與BER碼型生成結(jié)合起來，使誤碼率檢測更快、更準(zhǔn)確、更*面
?BERTScope?誤碼率測試儀系列可方便隔離問題字節(jié)和碼型序列，然后使用七種厲害誤碼分析功能，進(jìn)一步展開分析，提供前*有未的統(tǒng)計(jì)測量深度
?高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力
?經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力接收機(jī)靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測試要求
?擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘
?PCIe 2.0和3.0接收機(jī)測試
?IEEE 802.3ba和32G光纖通道測試
?碼型生成和誤碼分析、高達(dá)28.6 Gb/秒的高速BER測量
?集成的壓力發(fā)生器用于受壓眼圖靈敏度(SRS)和抖動(dòng)容限一致性測試
?集成的BER關(guān)聯(lián)眼圖分析，并提供 PCI Express、USB、SATA和其他通信標(biāo)準(zhǔn)的通過/不通過模板
?在PRBS 31及高達(dá)28.6 Gb/秒的其它數(shù)字信號(hào)上進(jìn)行誤碼定位和BER輪廓分析
?選配抖動(dòng)分離及定位功能可以在 DUT 輸入上快速進(jìn)行抖動(dòng)分解，準(zhǔn)確進(jìn)行壓力校準(zhǔn)
?可選的數(shù)字預(yù)加重處理器在碼型發(fā)生器提供的數(shù)據(jù)上提供用戶控制的預(yù)加重
?可選的時(shí)鐘恢復(fù)單元提供很大 28.6 Gb/s 的時(shí)鐘恢復(fù)

美國Tektronix(泰克) BSA85C誤碼率測試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
?在一臺(tái)儀器中同時(shí)提供生成和分析功能，為當(dāng)今的第三代串行和IEEE802.3ba、32GFC通信標(biāo)準(zhǔn)提供接收機(jī)BER一致性測試
?測試信號(hào)的數(shù)據(jù)速率、應(yīng)用的壓力和數(shù)據(jù)碼型都可以隨時(shí)更改且彼此獨(dú)立，允許多種信號(hào)變化來測試芯片組/系統(tǒng)靈敏度
?與其它BERT不同，提供熟悉的測試結(jié)果眼圖，并與標(biāo)準(zhǔn)特定的模板進(jìn)行對(duì)比，增強(qiáng)調(diào)試體驗(yàn)
?通過BER迅速了解信號(hào)完整性。誤碼定位提供了詳細(xì)的BER碼型靈敏度，加快了確定性與隨機(jī)性 BER 誤碼的識(shí)別
?用三角測量法快速有效地確定長碼型 PRBS31 抖動(dòng)結(jié)構(gòu)圖形表示讓抖動(dòng)分析更*面、跟進(jìn)更簡單
?可以使用PCI Express、10GBASE-KR、SATA、40GBASE-KR4、100GBASE-CAUI標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行測試
?根據(jù)高速串行和通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行一致性測試及準(zhǔn)確的眼圖分析
?抖動(dòng)裕量(Margin)測試、抖動(dòng)容限一致性模板測試
?快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤檢測器，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性
?物理層測試套件，支持模板測試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行*位測試
?集成的眼圖和BER相關(guān)分析
?專有的誤碼定位分析技術(shù)，迅速了解BER性能限制，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼
?執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析

產(chǎn)品應(yīng)用：
?設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
?對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測試
?串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測試
?設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng)
?信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q因子分析
?設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射接收機(jī)

我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。

美國Tektronix(泰克) BSA85C誤碼率測試儀技術(shù)參數(shù)：

	特性	說明
數(shù)據(jù)輸出	數(shù)據(jù)率范圍
	BSA85C	0.1-8.5 Gb/s
	BSA125C	0.1-12.5 Gb/s
	BSA175C	0.5-17.5 Gb/s
	BSA260C	1-26 Gb/s
	BSA286C	1-28.6Gb/s
	碼型格式	NRZ
	很性	正常或反相
	可變交叉點(diǎn)電平范圍	25 to 75%
	碼型
	硬件碼型	工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PRBS碼型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
	RAM 碼型
	BSA85C BSA125C BSA175C BSA260C BSA286C	128位~128Mb 每個(gè)A/B 頁面中A 或B各有32Mb，共兩組A/B 頁面。單頁面很大128Mb
	碼型數(shù)據(jù)庫	基于K28.5 或CJTPAT 碼型的SONET/SDH, Fibre Channel 碼型; 2n 碼型，n=3,4,5,6,7,9; 2n標(biāo)記密度碼型, n=7,9,23;其他
	誤碼插入
	長度	1,2,4,8,16,32,64 長度突發(fā)序列
	頻率	單詞或者重復(fù)
數(shù)據(jù) 時(shí)鐘 幅度	配置	差分輸出，差分每一路可獨(dú)立設(shè)置端接、幅度和偏置
	接口	DC 耦合，50 歐姆反向端接。APC-3.5 連接器 可選校準(zhǔn)到75歐姆端接，其他阻抗通過面板輸入 可更換的Planar Crown適配器，可換為其他類型連接器
	預(yù)設(shè)邏輯電平	LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
	端接電壓	–2V ~ 2V 預(yù)設(shè)值：1.5V，1.3V，1.0V，-2V，AC 耦合
	允許的幅度、端接和偏置電壓
時(shí)鐘/數(shù)據(jù)延遲	范圍	(以下情況全部大于1比特周期)
	≤ 1.1GHz	30ns
	> 1.1GHz	3ns
	分辨率	100fs
	自校率	在時(shí)間測量時(shí)，當(dāng)溫度或者比特率改變，推薦進(jìn)行儀器自校準(zhǔn),校準(zhǔn)過程小于10s
外部時(shí)鐘輸入	頻率范圍
	BSA85C	0.1 to 8.5GHz
	BSA125C	0.1 to 12.5GHz
	BSA175C	0.5 to 17.5GHz
	BSA260C	1 to 26GHz
	BSA286C	1 to 28.6GHz
	定額功率	900mVpp (+3dBm)
	很大功率	2.0Vpp (+10dBm)
	回波損耗	優(yōu)于 –6dB
	接口	50 歐姆SMA 母頭，DC 耦合，可選的端機(jī)電壓
子速率 時(shí)鐘輸出	頻率范圍	0.125到3.125GHz(STR 選項(xiàng)可到12.5GHz)
	幅度范圍	額定電壓1Vp-p，偏置0V
	跳變時(shí)間	<500ps
	接口	SMA 母頭, 50 歐姆, DC 耦合, 端接電壓0V
觸發(fā)輸出	很小脈沖寬度	128 個(gè)時(shí)鐘周期(模式1) 512 個(gè)時(shí)鐘周期(模式2)
	跳變時(shí)間	<500ps
	抖動(dòng)(p-p,數(shù)據(jù)到觸發(fā))	<10ps, 典型值(BSA175C、 BSA260C和 BSA286C)
	輸出幅度	>300mVp-p,偏置 650mV
	接口	50歐姆 SMA 母頭
碼型啟動(dòng)輸入	邏輯電平	LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高)
	門限電平	+1.2V 典型值
	很大非損傷輸入電壓范圍	–0.5V to +5.0V
	很小脈沖寬度	128 連續(xù)時(shí)鐘周期
	很大重復(fù)率	512 連續(xù)時(shí)鐘周期
	接口	SMA 母頭， >1K 歐姆阻抗，端接到0V